薄膜瑕疵检测系统
GC-IQD-G
适用于多种功能膜类产品
适用于多种功能膜类产品
薄膜瑕疵检测系统适用于EVA/POE/PVB光伏膜、感光胶膜、双向拉伸膜、流延膜、吹膜、光学膜、锂电池隔膜、铝塑膜、复合膜等膜的表面瑕疵检测。
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检测缺陷类别 |
外来杂质、滴胶、孔洞、透明块、固化块、黑点、白点、干水印、缺胶、褶皱、油印、黄色杂质、毛刺等 |
| 摄像机 | 8K线扫工业相机 |
| 光源 | 高亮线性光源 |
| 光学分辨率 | 0.183mm/pixel（可依据客户需求定制） |
| 检测速度 | 0-600m/min（可依据客户需求定制） |
| 检测幅宽 | 0-6m（可依据客户需求定制） |
