颗粒杂质分析仪
GC-RA-F40
适用于实验室
适用于实验室
设备用于检测XLPE、PC、亚克力、FEP、PFA、PCR-PP等透明、半透明、不透明颗粒的缺陷、杂质和色差，自动统计数量级分布并生成分析报告
|
检测缺陷类别 |
颗粒表面杂质（黑点、黄点等）、异色颗粒（可选检测异性功能） |
| 摄像机 | 4K彩色工业相机 |
| 光源 | LED白光 |
| 检测效率 | 200g/min(离线抽检) |
| 检测颗粒范围 | 1mm-8mm（取决于颗粒特性） |
| 最小光学分辨率 | 20μm |
| 最小检测目标 | 40μm |
设备用于检测XLPE、PC、亚克力、FEP、PFA、PCR-PP等透明、半透明、不透明颗粒的缺陷、杂质和色差，自动统计数量级分布并生成分析报告
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检测缺陷类别 |
颗粒表面杂质（黑点、黄点等）、异色颗粒（可选检测异性功能） |
| 摄像机 | 4K彩色工业相机 |
| 光源 | LED白光 |
| 检测效率 | 200g/min(离线抽检) |
| 检测颗粒范围 | 1mm-8mm（取决于颗粒特性） |
| 最小光学分辨率 | 20μm |
| 最小检测目标 | 40μm |
