颗粒杂质分析仪
GC-RA-F40
适用于实验室
适用于实验室
设备用于检测透明、半透明本色树脂颗粒上的异色杂质和异色粒（不透明颗粒可选配）。
|
检测缺陷类别 |
颗粒杂质（透明颗粒、半透明颗粒、不透明颗粒） |
| 摄像机 | 4K彩色工业相机 |
| 光源 | LED白光 |
| 检测效率 | 200g/min(取决于颗粒特性) |
| 检测颗粒范围 | 1mm-8mm（取决于颗粒特性） |
| 最小检测目标 | 40μm |
设备用于检测透明、半透明本色树脂颗粒上的异色杂质和异色粒（不透明颗粒可选配）。
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检测缺陷类别 |
颗粒杂质（透明颗粒、半透明颗粒、不透明颗粒） |
| 摄像机 | 4K彩色工业相机 |
| 光源 | LED白光 |
| 检测效率 | 200g/min(取决于颗粒特性) |
| 检测颗粒范围 | 1mm-8mm（取决于颗粒特性） |
| 最小检测目标 | 40μm |
